[发明专利]透明导电性膜有效

专利信息
申请号: 200510076019.5 申请日: 2005-06-03
公开(公告)号: CN1707700A 公开(公告)日: 2005-12-14
发明(设计)人: 梨木智刚;菅原英男 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H01B5/14 分类号: H01B5/14;G02F1/1333;H05B33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 郭广迅;赵苏林
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种透明导电性膜,其包括:透明基体膜;厚度为10-100nm、折光率为1.40-1.80、平均表面粗糙度Ra为0.8-3.0nm和x为1.0-2.0的透明SiOx薄膜;和含有铟-锡复合氧化物、厚度为20-35nm、SnO2/(In2O3+SnO2)比例为3-15wt%的透明导电性薄膜,其中该透明导电性薄膜通过所述透明SiOx薄膜位于所述透明基体膜的一侧。
搜索关键词: 透明 导电性
【主权项】:
1、透明导电性膜,含有:透明基体膜;厚度为10-100nm、折光率为1.40-1.80、平均表面粗糙度Ra为0.8-3.0nm的透明SiOx薄膜,其中x为1.0-2.0;和含有铟-锡复合氧化物的透明导电性薄膜,其厚度为20-35nm,SnO2/(In2O3+SnO2)的比例为3-15wt%,其中透明导电性薄膜通过透明SiOx薄膜位于透明基体膜的一侧。
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