[发明专利]具有减少的寄生电容的MOS电容器无效

专利信息
申请号: 200510076121.5 申请日: 2005-06-08
公开(公告)号: CN1707813A 公开(公告)日: 2005-12-14
发明(设计)人: 约瑟夫·S·肖尔;爱德华多·玛艾彦;约拉姆·柏斯特 申请(专利权)人: 赛芬半导体有限公司
主分类号: H01L29/94 分类号: H01L29/94
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 以色列*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要: 一种电容器,该电容器包括:容性地耦合到第二有源层的第一有源层,第二有源层容性地耦合到第三层,第三层容性地耦合到第四层,其中电容器的阳极连接到第一和第二有源层中的一个,而电容器的阴极连接到第一和第二有源层中的另外一个,并且其中第三层为浮动的。第四层可以连接到电源电压,比如但不限于地。
搜索关键词: 具有 减少 寄生 电容 mos 电容器
【主权项】:
1、一种电容器,包括:容性地耦合到第二有源层的第一有源层,所述第二有源层容性地耦合到第三层,所述第三层容性地耦合到第四层,其中该电容器的阳极连接到所述第一和第二有源层中的一个,并且该电容器的阴极连接到所述第一和第二有源层中的另外一个,并且其中使所述第三层浮动。
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