[发明专利]氧浓度检测元件和制造方法无效

专利信息
申请号: 200510078014.6 申请日: 2005-06-10
公开(公告)号: CN1707256A 公开(公告)日: 2005-12-14
发明(设计)人: 堺祥一;一柳太;小野塚准二;织茂康司 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G01N27/409 分类号: G01N27/409;G01N27/30
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 付建军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种氧浓度检测元件,它包括(a)由第一绝缘材料构成的基础构件;(b)形成在基础构件上的电加热层以在通电时发热;和(c)形成在基础构件上的氧检测层叠单元,该单元包括内外电极和夹在其间的固体电解质层。内电极可能由贵金属材料和分布在其中的孔洞构成,孔洞来源于孔洞形成剂。氧浓度检测元件可以包括位于基础构件的外表面和氧检测层叠单元之间的允许氧透过的穿透层。穿透层从氧浓度检测单元的位置沿基础构件的轴向延伸。
搜索关键词: 浓度 检测 元件 制造 方法
【主权项】:
1、一种氧浓度检测元件,包括:由绝缘材料构成的基础构件,该基础构件的外表面具有第一位置和不同于第一位置的第二位置;形成在基础构件的第一位置上的电加热层以在通电时产生热量;和形成在基础构件的第二位置上的氧检测层叠单元,该氧检测层叠单元包括:(a)由来自电加热层的热量激活的固体电解质层;(b)形成在固体电解质层的外表面上的外电极;和(c)形成在固体电解质层的内表面上与外电极相对的内电极,该内电极由贵金属材料和大量分布在其中的孔洞构成,这些孔洞来源于在进行用于制造氧浓度检测元件的焙烧之前占贵金属材料总体积的30~50体积%的孔洞形成剂。
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