[发明专利]光学管测量装置无效

专利信息
申请号: 200510078909.X 申请日: 2005-06-16
公开(公告)号: CN1710407A 公开(公告)日: 2005-12-21
发明(设计)人: 冈宏一;新田哲士 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/59
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 具备照射出在某一波长范围扩展的光线的光源S、使从上述光源照射出的光线发生反射的第1反射镜M1、引导上述被第1反射镜反射的光线的长光程气管1、从上述长光程气管射出的光线发生反射的第2反射镜M2、以及检测被上述第2反射镜反射的光线的传感器D,并且在上述光源S到上述传感器D的光程间,设置了具有在与光程正交的2偏振方向(X、Y)间焦距不同的双聚焦特性的透镜21、22。补偿设置在气管1内部的球面镜6、7的像差,使得气管1的光线透过率不会降低。
搜索关键词: 光学 测量 装置
【主权项】:
1.一种光学管测量装置,用于测量存在于气管内部的物质的频谱,具备:照射出在某一波长范围内扩展的光线的光源、使从上述光源照射出的光线发生反射的第1反射镜、引导上述被第1反射镜反射的光线的长光程气管、使从上述长光程气管射出的光线发生反射的第2反射镜、以及检测被上述第2反射镜反射的光线的传感器,其特征在于:在从上述光源到上述传感器的光程间,设置了具有在与光程正交的2个方向之间焦距不同的双聚焦特性的光学元件。
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