[发明专利]扫描和成像光学系统、光学扫描器和成像装置有效
申请号: | 200510078921.0 | 申请日: | 2005-06-17 |
公开(公告)号: | CN1710458A | 公开(公告)日: | 2005-12-21 |
发明(设计)人: | 厚海广道;山中康生 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G02B26/10 | 分类号: | G02B26/10;G03G15/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 王冉;王景刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种扫描和成像光学系统,该光学系统向被扫描表面会聚由光偏转器偏转的光束,以在表面上形成用于光扫描的光点,包括多个扫描透镜。在扫描透镜中,扫描透镜中至少两个是通过塑料模制形成的树脂透镜,在水平扫描方向或在垂直扫描方向上位置坐标是X的情况下,在关于位置坐标X的横截面中的折射率分布是Δn(X),在树脂透镜的包含光轴的水平扫描方向或在垂直扫描方向的横截面中的折射率分布、至少在垂直扫描方向上的折射率分布Δn(X)的符号对于所有的树脂透镜是不相同的。 | ||
搜索关键词: | 扫描 成像 光学系统 光学 扫描器 装置 | ||
【主权项】:
1、一种扫描和成像光学系统,该光学系统将由光偏转器偏转的光束向被扫描表面会聚,以在表面上形成用于光扫描的光点,其包括多个扫描透镜,其中扫描透镜中至少两个是通过塑料模制形成的树脂透镜,且其中在水平扫描方向或在垂直扫描方向上位置坐标是X,在关于位置坐标X的横截面中的折射率分布是Δn(X),在树脂透镜的包含光轴的水平扫描方向或在垂直扫描方向的横截面中的折射率分布、以及至少在垂直扫描方向的折射率分布Δn(X)的来说对于所有的树脂透镜来说是不相同的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510078921.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。