[发明专利]使用氩稀释的高压F2等离子体的高速蚀刻无效

专利信息
申请号: 200510079222.8 申请日: 2005-05-12
公开(公告)号: CN1783423A 公开(公告)日: 2006-06-07
发明(设计)人: G·麦克法兰;R·霍格尔;C·贝利 申请(专利权)人: 波克股份有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/3065;C23C16/455;C23C16/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 沙永生
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供F2在沉积室清洗过程中的应用。如果在高压条件下进行操作,这种清洗特别地有效。此外,本发明提供高压F2在以高蚀刻速度进行基片蚀刻或者晶片薄化过程中的应用。
搜索关键词: 使用 稀释 高压 sub 等离子体 高速 蚀刻
【主权项】:
1、一种清洗沉积真空室的方法,所述方法在大于20Torr的压力下利用F2等离子体。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于波克股份有限公司,未经波克股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510079222.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top