[发明专利]存储控制电路及存储控制电路中的地址错误检验方法有效

专利信息
申请号: 200510082285.9 申请日: 2005-07-06
公开(公告)号: CN1841334A 公开(公告)日: 2006-10-04
发明(设计)人: 藏本昌宏;小薮正夫;对木润;稻垣淳一 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00;G11C29/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 张龙哺;郑特强
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种用于在存储控制电路中进行地址错误检验的方法,存储控制电路将数据存储在由地址指定的存储区域中,其中,该方法用偶数比特对分配给地址的第一编码进行编码;用奇数比特对分配给写入存储单元数据的第二编码进行编码;基于第一和第二编码产生检验码,并将检验码存储在相应于被写到存储单元的数据的存储单元中;以及基于从存储单元读取的数据、相应于数据读取的检验码及读取地址进行错误检查,从而检测多比特地址错误。
搜索关键词: 存储 控制电路 中的 地址 错误 检验 方法
【主权项】:
1、一种存储控制电路,包括:存储单元,能够在由地址指定的存储区中存储数据;检验码产生单元,能够基于写入该存储单元的数据及为写入该数据指定的地址产生检验码,该检验码被存储到与写入该存储单元的数据相应的存储单元;以及检验码检查单元,能够基于从该存储单元读取的数据、相应于读取的数据的检验码及为读取数据指定的地址进行错误检查,其中,该检验码产生单元及该检验码检查单元用偶数比特对分配给地址的第一编码进行编码;用奇数比特对分配给写入存储单元数据的第二编码进行编码;以及该检验码产生单元及该检验码检查单元基于第一编码和第二编码,产生或检查相应于写入的数据或读取的数据的检验码。
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