[发明专利]一种半导体器件有效

专利信息
申请号: 200510082800.3 申请日: 2005-07-07
公开(公告)号: CN1755934A 公开(公告)日: 2006-04-05
发明(设计)人: 伊藤文俊;川岛祥之;坂井健志;石井泰之;金丸恭弘;桥本孝司;水野真;奥山幸祐;真边由起子 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;G11C16/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 王茂华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提高了具有非易失性存储单元的半导体器件的集成度和重写次数。第一MONOS型非易失性存储元件和第二MONOS型非易失性存储元件一起安装在同一衬底上,其中第二MONOS型非易失性存储元件具有比第一MONOS型非易失性存储元件更大的栅极宽度,并且第一MONOS型非易失性存储元件用于存储几乎不重写的程序数据,以及第二MONOS型非易失性存储元件用于存储频繁重写的处理数据。
搜索关键词: 一种 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,具有第一和第二非易失性存储元件,在该元件中经由在半导体衬底的主表面上的电荷存储绝缘膜设置栅电极,其中,所述第一非易失性存储元件用来存储用于形成程序的数据,以及,所述第二非易失性存储元件用来存储通过执行该程序处理的数据,并且具有比所述第一非易失性存储元件的栅极宽度更大的栅极宽度。
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