[发明专利]用于连续横向固化技术的掩膜及用其形成多晶硅层的方法有效
申请号: | 200510082849.9 | 申请日: | 2005-07-08 |
公开(公告)号: | CN1892420A | 公开(公告)日: | 2007-01-10 |
发明(设计)人: | 赵志伟 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08;G03F1/00;G03F7/00;H01L21/027 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭露了一种应用于连续横向固化技术掩膜,用以产生一结晶边界分散的多晶硅薄膜。本发明的掩膜至少包含:一第一区域、一第二区域、及一第三区域。其中,第一区域及第三区域为透光,第二区域则为遮光。第一区域围绕在第二区域的周围,且第一区域以及第二区域具有基本上相同的外围形状。第三区域与第一区域具有相同的外围形状,且第三区域与第一区域以及第二区域以一预定方向平行配置。本发明的优点在于,利用掩膜上的图案图形互补的概念,设计出可制作至少两种晶粒方向的多晶硅图案,通过控制掩膜上多个遮光区及透光区图案面积大小,可得到完美的晶粒边界。 | ||
搜索关键词: | 用于 连续 横向 固化 技术 形成 多晶 方法 | ||
【主权项】:
1.一种应用于连续横向固化技术的掩膜,其特征在于,掩膜用以产生一结晶边界分散的多晶硅薄膜,所述的掩膜包含:一第一区域,为透光;一第二区域,为遮光,其中所述的第一区域围绕在所述的第二区域的周围;以及一第三区域,为透光,与所述的第一区域具有相同的外围形状,且所述的第三区域与所述的第一区域以及所述的第二区域以一预定方向平行配置。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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