[发明专利]天线耦合测试装置无效
申请号: | 200510083565.1 | 申请日: | 2005-07-11 |
公开(公告)号: | CN1896752A | 公开(公告)日: | 2007-01-17 |
发明(设计)人: | 周黄弘亚;余秋庆 | 申请(专利权)人: | 智捷科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R29/10;G01R31/00;H04B17/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王玉双;潘培坤 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种天线耦合测试装置,尤指用于测试—待测装置上的天线、由此得知该天线的功率、场效等测试值的测试装置,其中,该类待测装置为板状体型式。该测试装置包括:一在一侧处设有插槽、且该插槽相对于所述待测装置而利于插置的外壳;一设置于该外壳插槽内的绝缘材,其具有一容室、和一设于该容室内壁的金属片;及,一设于外壳另一侧的电连接器,该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。 | ||
搜索关键词: | 天线 耦合 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种天线耦合测试装置,用于测试一待测装置上的天线,其特征在于,该测试装置包括:一外壳,其一侧具有向内延伸的插槽,该插槽相对于所述待测装置而利于插置;一绝缘材,其设置于该外壳的插槽内,且该绝缘材具有一容室和一设于该容室内壁的金属片;及一电连接器,其设于该外壳另一侧,该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。
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