[发明专利]天线耦合测试装置无效

专利信息
申请号: 200510083565.1 申请日: 2005-07-11
公开(公告)号: CN1896752A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: 周黄弘亚;余秋庆 申请(专利权)人: 智捷科技股份有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R29/10;G01R31/00;H04B17/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 王玉双;潘培坤
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种天线耦合测试装置,尤指用于测试—待测装置上的天线、由此得知该天线的功率、场效等测试值的测试装置,其中,该类待测装置为板状体型式。该测试装置包括:一在一侧处设有插槽、且该插槽相对于所述待测装置而利于插置的外壳;一设置于该外壳插槽内的绝缘材,其具有一容室、和一设于该容室内壁的金属片;及,一设于外壳另一侧的电连接器,该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。
搜索关键词: 天线 耦合 测试 装置
【主权项】:
1、一种天线耦合测试装置,用于测试一待测装置上的天线,其特征在于,该测试装置包括:一外壳,其一侧具有向内延伸的插槽,该插槽相对于所述待测装置而利于插置;一绝缘材,其设置于该外壳的插槽内,且该绝缘材具有一容室和一设于该容室内壁的金属片;及一电连接器,其设于该外壳另一侧,该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于智捷科技股份有限公司,未经智捷科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510083565.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top