[发明专利]超电容有效寿命预测

摘要

提供了用于预期超电容在OFF周期之后经历至少一个ON周期的使用寿命Y_proj的方法和设备。设备包括耦合到超电容的传感器，用于测量作为时间t的函数的超电容的瞬时电压V(t)和温度T(t)；以及一种耦合到传感器的测量系统，测量系统接收V(t)、T(t)并至少部分基于组合不同t值的瞬时超电容寿命Y(V(t)，T(t))＝10^(aT+bV+c)的值计算Y_proj，其中a、b和c是常数。测量系统最好包括程序、临时和非易失存储器、处理器、定时器和用于同传感器和其它车辆系统通信的I/O。在优选实施例中，在OFF周期的开始和结束的V(t)、T(t)的值还用于确定Y_proj。

主权项

1.一种用于预计超电容电源经历至少一个ON周期和至少一个OFF周期的有效寿命Yproj的系统，包括：耦合到所述超电容电源的传感器，用于测量作为时间的函数的超电容的电压V(t)和温度T(t)；以及耦合到所述传感器的测量系统，所述测量系统接收V(t)、T(t)并至少部分基于在OFF周期开始的V(t)、T(t)＝Vo、To的值和在OFF周期结束的V(t)、T(t)＝Vf、Tf的值以及一个或多个在ON周期期间得到的V(t)、T(t)的值计算Yproj。