[发明专利]绝对距离测量设备有效
| 申请号： | 200510084516.X | 申请日： | 2005-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN1734287A | 公开（公告）日： | 2006-02-15 |
| 发明（设计）人： | D·W·赛斯克 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 钱慰民 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及绝对距离测量设备，尤其涉及一种使用激光二极管波长依赖于外腔反馈控制的绝对距离测量设备。外腔激光器具有一个在目标表面和位于离该目标表面最远处的激光二极管晶面之间所形成的外腔。将一色散元件设置在外腔中并且聚焦来自激光二极管的光，使得某一波长可聚焦在目标表面上的焦点光斑处。从目标表面上的焦点光斑处所反射的光是往回耦合进入激光波导内的主要波长，该激光波导可提供一确定激光二极管谐振波长的反馈信号。激光二极管因此输出定义明确、与色散元件和目标表面之间的距离相对应的光波长。 | ||
| 搜索关键词： | 绝对 距离 测量 设备 | ||
【主权项】：
1.一种距离测量装置，其特征在于，它包括：一聚焦元件，将光线聚焦到焦平面上，从所述聚焦元件到各个焦平面的距离取决于光的各个波长，使得当目标表面位于所述的各个距离处时光的各个波长可从所述目标表面上焦点光斑处会反射；和一增益介质，设置用于放大由所述目标表面上焦点光斑所反射的光的各个波长。
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