[发明专利]气体中杂质的定量方法及装置无效
| 申请号： | 200510084614.3 | 申请日： | 2005-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN1721838A | 公开（公告）日： | 2006-01-18 |
| 发明（设计）人： | 冈宏一;新田哲士 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及气体中杂质的定量方法及装置。从气体中除去杂质、导入容器15、透过容器15光的强度作为参照实施测定。将含已知浓度杂质的气体导入同一容器15，保持同温同压，测定透过容器15光的强度，由上述两次测定所得的光强度之比求杂质的吸光度。此杂质吸光度作为杂质浓度函数记忆在存储器20a中。将含未知浓度杂质的气体导入容器15，保持同温同压，测定透过容器15的光强度，求经此测定所得杂质对上述参照的吸光度，此吸光度应用于上述函数、求杂质浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 气体 杂质 定量 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种气体中杂质定量方法，其特征在于是一种定量混入气体中杂质浓度的定量方法，包括下列步骤：(a)从上述气体中除去杂质，导入第1容器，测定透过该容器光的强度；(b)把含已知浓度杂质的气体导入第1容器或光路同长的第2容器，保持与上述测定(a)同温同压，测定透过容器光的强度；(c)经上述(b)测得的光强度除以经上述(a)测得的光强度，求杂质的吸光度，此杂质的吸光度作为杂质浓度函数记忆存储；(d)把含未知浓度杂质的气体导入第1、第2容器或光路同长的第3容器，保持与上述测定(a)及上述测定(b)同温同压，测定透过上述第1、第2或第3容器光的强度；(e)经上述(d)测得的光强度除以经上述(a)测得的光强度，求杂质的吸光度，用此吸光度应用于上述函数，求杂质浓度。
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