[发明专利]全口径光强测量仪无效
| 申请号： | 200510086253.6 | 申请日： | 2005-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN1731112A | 公开（公告）日： | 2006-02-08 |
| 发明（设计）人： | 李恩德;段海峰;杨泽平;张雨东 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 刘秀娟;成金玉 |
| 地址： | 610209*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 全口径光强测量仪由光束匹配系统、过滤系统和二维面阵CCD、以及数据采集和处理系统组成，光束匹配系统将被测光束的口径转化到二维面阵CCD的靶面大小，再经过过滤系统消除杂散光以及将被测光束的强度衰减到二维面阵CCD可以测量的范围内，二维面阵CCD可以同时测量被测激光放大器全口径内的光强分布，将过滤系统过滤后的激光光束的二维光强信号，经过灰度信号到光强的转换、图像对准后转换为电信号，数据采集和处理系统采集二维面阵CCD的测量数据并进行存储，同时计算并输出全口径内的光强和光强分布的均匀性，也完成光强以及和光强分布均匀性相关参量的计算。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高，能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差，能够简化实验过程，加快测量速度并提高测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 口径 测量仪 | ||
【主权项】：
1、全口径光强测量仪，其特征在于：它由光束匹配系统、过滤系统和二维面阵CCD、以及数据采集和处理系统组成，光束匹配系统将被测光束的口径转化到二维面阵CCD的靶面大小，再经过过滤系统消除杂散光以及将被测光束的强度衰减到二维面阵CCD可以测量的范围内，二维面阵CCD同时测量被测激光放大器全口径内的光强分布，将过滤系统过滤后的激光光束的二维光强信号，经过灰度信号到光强的转换、图像对准后转换为电信号，数据采集和处理系统采集二维面阵CCD的测量数据并进行存储，同时计算并输出全口径内的光强和光强分布的均匀性，完成光强以及和光强分布均匀性相关参量的计算。
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