[发明专利]全口径增益测量仪无效

专利信息
申请号: 200510086413.7 申请日: 2005-09-13
公开(公告)号: CN1740763A 公开(公告)日: 2006-03-01
发明(设计)人: 李恩德;段海峰;杨泽平;张雨东 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J1/00;H04B10/08
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 刘秀娟;成金玉
地址: 610209*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 全口径增益测量仪由光束匹配望远镜、过滤系统和光电耦合器件CCD以及数据采集、处理和显示系统组成,系统采用了二维面阵CCD探测光强信号的二维强度分布,可以同时测量被测激光放大器全口径内的增益及增益分布。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高,相对于现有的多点探针光增益测量技术,能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差,能够简化实验过程,加快测量速度并提高测量精度。
搜索关键词: 口径 增益 测量仪
【主权项】:
1、全口径增益测量仪,其特征在于:它由光束匹配系统、分光镜、两个过滤系统、两个二维面阵CCD及两套数据采集和处理系统组成,光束匹配系统将被测光束的口径转化到光电耦合器件CCD的靶面大小,经过分光镜分出两束光,分别经过两个过滤系统消除杂散光以及将被测光束的强度衰减到CCD可以测量的范围内,然后通过两个二维面阵CCD测量将激光光束的二维强度分布转换为电信号,最后通过数据采集和处理系统将测量数据从CCD转移到计算机、CCD探测到的灰度信号到光强的转换、去除数据的噪声及数据的有效性验证、完成图像边界提取和图像对准和计算增益分布、小信号增益系数和相关的参量。
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