[发明专利]介质阻挡放电原子化/离子化方法及其装置有效
| 申请号： | 200510086518.2 | 申请日： | 2005-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN1763520A | 公开（公告）日： | 2006-04-26 |
| 发明（设计）人： | 张新荣;朱振利;张四纯 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N30/06 | 分类号： | G01N30/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 介质阻挡放电原子化/离子化方法及其装置涉及分析化学原子化/离子化方法技术领域，特别涉及介质阻挡放电用于氢化物的原子化/离子化技术。其特征在于，将氢化物通过载气进入介质阻挡放电通道来进行原子化/离子化，气体的流速为30毫升/分钟至1000毫升/分钟，采用高压高频电源进行放电，电压为220V～10000V，频率为50Hz～50MHz。本发明具有结构简单，体积小等优点，可用于原子吸收，原子发射，原子荧光以及质谱分析。 | ||
| 搜索关键词： | 介质 阻挡 放电 原子 离子化 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、介质阻挡放电原子化/离子化方法，其特征在于，将氢化物通过载气进入介质阻挡放电通道来进行原子化/离子化，气体的流速为30毫升/分钟～1000毫升/分钟，采用高压高频电源进行放电，电压为220V～10000V，频率为50Hz～50MHz。
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