[发明专利]一种平面叶片面积无损测量系统及其方法有效
申请号: | 200510086647.1 | 申请日: | 2005-10-20 |
公开(公告)号: | CN1952599A | 公开(公告)日: | 2007-04-25 |
发明(设计)人: | 滕军;胡包钢 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G01B21/28 | 分类号: | G01B21/28;G01B11/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 段成云 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及平面面积测量技术领域,特别是一种使用单幅图像,进行平面叶片面积无损测量的系统及其方法。系统包括:图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元。方法包括:通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像;图像校正单元根据图像和标定板上的同名点,计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系,并且对图像进行正射校正;叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来;叶片面积计算单元根据射影对应关系,计算出正射校正后的叶片图像的面积。 | ||
搜索关键词: | 一种 平面 叶片 面积 无损 测量 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
1、一种平面叶片面积无损测量系统,其特征在于:该系统包括图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元,通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像,图像校正单元根据图像和标定板上的同名点,计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系,叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来,叶片面积计算单元根据射影对应关系,计算出正射校正后的叶片图像的面积,图像采集模块由标定板、相机、相机控制软件模块组成,图像校正单元、叶片图像分割单元、叶片面积计算单元为软件模块,集成在一个单元,其中,图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元,上述单元依次顺序连接。
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