[发明专利]同步辐射X射线相位衬度CT成像装置及实验方法无效
| 申请号： | 200510086904.1 | 申请日： | 2005-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN1965760A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 吴自玉;袁清习;王寯越;朱佩平;黄万霞;舒航 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 段成云 |
| 地址： | 100049北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及计算机断层成像技术领域，特别是一种同步辐射X射线相位衬度CT成像装置及实验方法。装置由单色器晶体、样品转台、分析晶体、电离室和成像探测器组成，样品转台由三个转动和两个平动来组成。同步辐射X射线相位衬度CT成像方法流程，其具体步骤如下：步骤S1，不同成像模式下相位衬度成像条件的确定；步骤S2，相位衬度CT成像实验数据的获取；步骤S3，相位衬度成像实验数据的重建。 | ||
| 搜索关键词： | 同步 辐射 射线 相位 ct 成像 装置 实验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种同步辐射X射线相位衬度CT成像装置，所述的装置由单色器晶体、样品转台、分析晶体、电离室和成像探测器组成，在衍射增强相位衬度CT成像实验中，单色器晶体、样品转台、分析晶体、电离室和成像探测器顺序排列在光路上；在同轴相位衬度CT成像实验中，单色器晶体、分析晶体、样品转台、电离室和成像探测器依次排列在光路上；电离室的作用是作为X射线强度的监测设备，电离室测得的X射线光强以光电流的形式通过微静电计实时显示。
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