[发明专利]检测锁相的电路和方法有效
| 申请号： | 200510087549.X | 申请日： | 2005-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN1728558A | 公开（公告）日： | 2006-02-01 |
| 发明（设计）人： | 郑雨永 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H03L7/089 | 分类号： | H03L7/089;H03L7/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章;马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种包括锁定检测功能的锁相环电路，所述锁相环电路包括锁定检测电路。该锁定检测电路包括锁定窗口进入检测电路和锁定检测信号产生电路。该锁定窗口进入检测电路在被延迟的向上信号或被延迟的向下信号的前沿处检测由相位频率检测器产生的向上信号或向下信号的前沿，以便产生锁定窗口进入检测信号，其中被延迟的向上信号或被延迟的向下信号基本上被延迟了一个锁定窗口。锁定检测信号产生电路计数锁相环电路的输入信号，以便当在预定时间周期期间持续地激活锁定窗口进入检测信号时产生锁定检测信号。以这种方式，仅当已经完成锁相操作时才输出锁定检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种锁定检测电路，包括：锁定窗口进入检测电路，用于在被延迟的向上信号或被延迟的向下信号的前沿处检测由相位频率检测器产生的向上信号或向下信号的状态，以便产生锁定窗口进入检测信号，其中被延迟的向上信号或被延迟的向下信号基本上被延迟了一个锁定窗口；和锁定检测信号产生电路，用于当在预定时间周期期间内锁定窗口进入检测信号持续激活时，计数锁相环电路的输入信号，以便产生锁定检测信号。
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