[发明专利]光学拾取设备、光学记录和再现设备及方法无效
| 申请号： | 200510088485.5 | 申请日： | 2005-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN1747007A | 公开（公告）日： | 2006-03-15 |
| 发明（设计）人： | 山本健二;佐藤克利;西纪彰;金谷绿;莳田真哉 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/12 | 分类号： | G11B7/12;G11B7/135 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 党建华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光学拾取设备，包括：半导体激光器，用来发射具有至少从400nm至415nm的波长的激光，并且其与活性层相平行的平面基本上与光学记录介质的记录表面相平行地布置；和一个反射表面，用来在与光学记录介质的记录表面基本相垂直的方向上反射从半导体激光器发射的激光，激光通过物镜照射在光学记录介质上以对光学记录介质进行记录和/或再现，其中在从半导体激光器引入到反射表面中的光线的方向与其中光学记录介质的记录轨道延伸的方向之间形成的角度θ被选择成满足：45°≤θ＜90°。从而可通过把具有最佳外形的射束点的光照射在记录轨道上而保持满意的记录和再现特性，该光学记录介质包括一种具有BD(蓝光盘)型构造的光学记录介质。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 拾取 设备 记录 再现 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学拾取设备，包括：半导体激光器，用来发射具有至少从400nm至415nm的波长的激光，并且其与活性层相平行的平面基本上与光学记录介质的记录表面相平行地布置；和反射表面，用来在与所述光学记录介质的记录表面基本相垂直的方向上反射从所述半导体激光器发射的激光，所述激光通过物镜照射在所述光学记录介质上以对所述光学记录介质进行记录和/或再现，其中在从所述半导体激光器引入到所述反射表面中的光线的方向与其中所述光学记录介质的记录轨道延伸的方向之间形成的角度θ被选择成满足：45°＜θ＜90°。
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