[发明专利]集成电路检测机有效
申请号: | 200510088939.9 | 申请日: | 2005-08-03 |
公开(公告)号: | CN1908635A | 公开(公告)日: | 2007-02-07 |
发明(设计)人: | 张原龙 | 申请(专利权)人: | 鸿劲科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/898;G01N21/956 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种集成电路检测机,包含有测试台、检测装置、热测室及载送装置等,其主要是在于该热测室的外部设有视觉装置,用以扫瞄测试台内是否残留异物,以防止后续置入的IC受损,而可降低损坏率,又该检测装置是设于热测室的外部,而可延长组件的使用寿命,仅令取放器置入于内用以移载IC,并配合以载送装置的封板将热测室的通道封闭,使热测室形成一气密性良好的均温作业环境,以提升检测准确率。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 检测 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路检测机,包含有测试台、检测装置及载送装置,其特征在于:该检测装置上设有视觉装置,该视觉装置用于扫瞄测试台,并将扫瞄讯号传输至控制器。
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