[发明专利]光学膜用检查部件以及光学膜的检查方法有效
申请号: | 200510089921.0 | 申请日: | 2005-08-04 |
公开(公告)号: | CN1737545A | 公开(公告)日: | 2006-02-22 |
发明(设计)人: | 作本征则;土师圭一朗;黑越努 | 申请(专利权)人: | 株式会社巴川制纸所 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够精确地判断光学膜优劣的光学膜用检查部件,是在基材上层合粘接部件而制成的检查部件,其特征为,所述基材与所述粘接部件的至少一方为遮光性部件。 | ||
搜索关键词: | 光学 检查 部件 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光学膜用检查部件,是在基材上层合粘接部件而制成的检查部件,其特征为,所述基材与所述粘接部件中的至少一方为遮光性部件。
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