[发明专利]使用反馈控制拉伸薄膜的系统和方法有效
| 申请号： | 200510090023.7 | 申请日： | 2005-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN1735285A | 公开（公告）日： | 2006-02-15 |
| 发明（设计）人： | 张辰宇 | 申请（专利权）人： | 宝星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04R31/00 | 分类号： | H04R31/00;B29C55/02;B29C55/30 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 韩国仁*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及使用反馈控制拉伸薄膜的系统，该使用反馈控制拉伸薄膜的系统包括：薄膜加载单元，用于将薄膜设置在其上；负压提供单元，用于向所述薄膜施加负压，以拉伸所述薄膜；声压提供单元，用于向所述薄膜施加预定频率的测试声压；张力测量单元，用于通过与所述薄膜相对的金属板的电压变化来测量所述薄膜的张力，该电压变化是由根据所述声压提供单元施加的测试声压的薄膜振动而引起的；以及负压控制单元，用于通过进行基准张力与由所述张力测量单元测量的张力之间的比较，来控制由所述负压提供单元提供的负压的级别。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 反馈 控制 拉伸 薄膜 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种使用反馈控制拉伸薄膜的系统，其包括：薄膜加载单元，用于将薄膜设置在其上；负压提供单元，用于向所述薄膜施加负压，以拉伸所述薄膜；声压提供单元，用于向所述薄膜施加预定频率的测试声压；张力测量单元，用于通过与所述薄膜相对的金属板的电压变化来测量所述薄膜的张力，该电压变化是由根据所述声压提供单元施加的测试声压的薄膜振动而引起的；以及负压控制单元，用于通过进行基准张力与由所述张力测量单元测量的张力之间的比较，来控制由所述负压提供单元提供的负压的级别。
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