[发明专利]电子元件的测试系统无效
| 申请号： | 200510090554.6 | 申请日： | 2005-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN1916641A | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 谢志宏 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 谢丽娜;陈肖梅 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明有关于一种电子元件测试系统，其包含多个测试区，且每一个测试区具有个别的取放装置(pick & place)。测试系统还包含多个移载装置(shuttle)，位于测试区与供料/收料承盘之间。此外，输出入区取放装置设于移载装置及供料/收料承盘之间，用以取放待测元件或已测元件。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件测试系统，其特征是，包含：一供料装置，用以承载待测元件；至少一收料装置，用以承载已测元件；复数个测试区，用以对该待测元件进行测试；复数个移载装置，位于该测试区与该供料装置、收料装置之间，用以传送该待测元件或该已测元件；及一输出入区取放装置，位于该移载装置及该供料装置、该收料装置之间，用以取放该待测元件或该已测元件。
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