[发明专利]硬盘磁头定位的测试方法有效

专利信息
申请号: 200510090772.X 申请日: 2005-08-16
公开(公告)号: CN1917042A 公开(公告)日: 2007-02-21
发明(设计)人: 焦学莲;陈玄同;刘文涵 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G11B5/455 分类号: G11B5/455;G11B5/56;G11B21/02;G11B20/18;G01R33/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种硬盘磁头定位的测试方法,通过磁头对硬盘进行定位以及读取测试,此硬盘具有多个磁扇,各个磁扇具有一磁扇地址,首先将各个磁扇依等间隔依序选择一参照磁扇地址,接着随机产生一测试磁扇地址,将磁头移动至测试磁扇地址,读取其对应的磁扇所储存的数据,并记录为第一读取数据,之后将磁头自测试磁扇地址移动至各个参照磁扇地址,再返回测试磁扇地址,且再次读取测试磁扇地址对应的磁扇所储存的数据,并记录为第二读取数据,最后比对第一读取数据和第二读取数据,以判断磁头寻道功能是否出现偏差。因此,当硬盘磁头性能存在问题时,进行若干次定位或是经过远距离寻道后,磁头会出现偏差,能避免随机测试的位置集中在某个区域的问题。
搜索关键词: 硬盘 磁头 定位 测试 方法
【主权项】:
1.一种硬盘磁头定位的测试方法,利用一磁头对一硬盘进行定位以及读取测试,该硬盘具有多个磁扇,各该磁扇具有一磁扇地址,其特征在于,该方法包含下列步骤:将该多个磁扇依等间隔依序选择一磁扇的该磁扇地址,以作为一参照磁扇地址;随机产生一测试磁扇地址;将该磁头移动至该测试磁扇地址,读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据,并记录为一第一读取数据;将该磁头自该测试磁扇地址移动至各该参照磁扇地址,再返回该测试磁扇地址,且再次读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据,并记录为一第二读取数据;以及对比该第一读取数据和该第二读取数据。
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