[发明专利]硬盘磁头定位的测试方法有效
申请号: | 200510090772.X | 申请日: | 2005-08-16 |
公开(公告)号: | CN1917042A | 公开(公告)日: | 2007-02-21 |
发明(设计)人: | 焦学莲;陈玄同;刘文涵 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G11B5/455 | 分类号: | G11B5/455;G11B5/56;G11B21/02;G11B20/18;G01R33/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种硬盘磁头定位的测试方法,通过磁头对硬盘进行定位以及读取测试,此硬盘具有多个磁扇,各个磁扇具有一磁扇地址,首先将各个磁扇依等间隔依序选择一参照磁扇地址,接着随机产生一测试磁扇地址,将磁头移动至测试磁扇地址,读取其对应的磁扇所储存的数据,并记录为第一读取数据,之后将磁头自测试磁扇地址移动至各个参照磁扇地址,再返回测试磁扇地址,且再次读取测试磁扇地址对应的磁扇所储存的数据,并记录为第二读取数据,最后比对第一读取数据和第二读取数据,以判断磁头寻道功能是否出现偏差。因此,当硬盘磁头性能存在问题时,进行若干次定位或是经过远距离寻道后,磁头会出现偏差,能避免随机测试的位置集中在某个区域的问题。 | ||
搜索关键词: | 硬盘 磁头 定位 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硬盘磁头定位的测试方法,利用一磁头对一硬盘进行定位以及读取测试,该硬盘具有多个磁扇,各该磁扇具有一磁扇地址,其特征在于,该方法包含下列步骤:将该多个磁扇依等间隔依序选择一磁扇的该磁扇地址,以作为一参照磁扇地址;随机产生一测试磁扇地址;将该磁头移动至该测试磁扇地址,读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据,并记录为一第一读取数据;将该磁头自该测试磁扇地址移动至各该参照磁扇地址,再返回该测试磁扇地址,且再次读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据,并记录为一第二读取数据;以及对比该第一读取数据和该第二读取数据。
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