[发明专利]图像检查装置、缺陷检测方法及缺陷检测程序无效

专利信息
申请号: 200510091917.8 申请日: 2005-08-12
公开(公告)号: CN1755343A 公开(公告)日: 2006-04-05
发明(设计)人: 芳贺进 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G06T1/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 图像检查装置、缺陷检测方法及缺陷检测程序。当预先准备的明暗度特性与检查用成像设备的明暗度特性不同时,会存在错误判断的问题。所以提供了一种缺陷检测方法。该方法包括:通过以规定行数为单位进行分割,将由M行N列个像素形成的数字图像划分为多个带状区域;对于所述多个带状区域的每一个,针对各列来对所述带状区域中的像素的浓淡值求平均;计算近似线,该近似线在所述多个带状区域的每一个中近似于所述浓淡值的平均值的分布;并且判断是否存在如下连续的d个列,在所述连续的d个列中,从所述近似线得到的所述浓淡值与针对各列的所述浓淡值的平均值之间的差值超出一指定阈值。
搜索关键词: 图像 检查 装置 缺陷 检测 方法 程序
【主权项】:
1、一种缺陷检测方法,其由连接至成像装置的图像检查装置来执行,所述成像装置具有光学元件和成像元件,以将通过所述光学元件接收的光转换为电信号,由所述成像装置采集的图像的数据被输入所述图像检查装置中,并且所述图像检查装置基于所述图像数据来检测所述成像装置的缺陷,该缺陷检测方法包括:通过以规定行数为单位进行分割,将由M行N列个像素形成的数字图像划分为多个带状区域,所述M和N是自然数;对于所述多个带状区域的每一个,针对各列来对所述带状区域中的像素的浓淡值求平均;计算近似线,该近似线在所述多个带状区域的每一个中,近似于所述浓淡值的平均值的分布;并且判断是否存在如下的连续的d个列,d是满足1<d<N的自然数,在所述的连续的d个列中,从所述近似线得到的所述浓淡值与针对各列的所述浓淡值的平均值之间的差值超出一指定阈值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510091917.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top