[发明专利]断层造影设备以及用于断层造影设备的方法无效
| 申请号： | 200510092064.X | 申请日： | 2005-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN1737549A | 公开（公告）日： | 2006-02-22 |
| 发明（设计）人： | 比约恩·海斯曼;西尔克·詹森 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083;A61B6/00;G06F19/00;G01T1/16 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;李晓舒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明的断层造影设备以及本发明的用于断层造影设备的方法，使得可以按照简单和有效的方式在所测量的探测器输出信号x(i，j)以及至少一个X射线辐射器输入值y(i)的基础上，计算取决于探测器输出信号的强度函数S(x(i，j))的针对探测器元件的系数sn (j)以及取决于X射线辐射器输入值的强度函数Q(y(i))的针对X射线辐射器的系数qm (i)，从而可以精确地确定由X射线辐射器(1)发出的并对相应探测器元件(3)起作用的X射线的强度。 | ||
| 搜索关键词： | 断层 造影 设备 以及 用于 方法 | ||
【主权项】：
1.一种带有X射线辐射器(1)和探测器(2)的断层造影设备，其中探测器包括多个用于产生探测器输出信号x(i，j)的探测器元件(3)，该断层造影设备包括计算装置(4)，其从至少一个探测器元件(3)的探测器输出信号x(i，j)以及X射线辐射器(1)的至少一个可以预定的X射线辐射器输入值y(i)中，计算取决于探测器输出信号的强度函数S(x(i，j))的针对探测器元件的系数sn(j)以及取决于X射线辐射器输入值的强度函数Q(y(i))的针对X射线辐射器的系数qm(i)，其中，对系数sn(j)、qm(i)的计算可以通过求解一个包括这些系数sn(j)、qm(i)、探测器输出信号x(i，j)和至少一个X射线辐射器输入值y(i)的方程组(4.2)来进行，该方程组的方程建立了在所述取决于探测器输出信号的强度函数S(x(i，j))和所述取决于X射线辐射器输入值的强度函数Q(y(i))之间的关系。
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