[发明专利]检查床位置测量方法、下垂补偿方法和X射线CT设备有效
| 申请号： | 200510092694.7 | 申请日： | 2005-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN1915172A | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 李庆雷 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B19/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;梁永 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种使用普通X射线CT设备功能的检查床位置测量和检查床下垂补偿方法。在通过X射线照射和探测装置扫描安置在检查床上的受检者的X射线CT设备中，根据沿切线方向向检查床背侧附近外侧前进的X射线被探测的通道位置和X射线照射和探测装置的几何结构，找到检查床在扫描平面中的位置。确定当前检查床位置从标称位置的下垂，以将检查床升高下垂量。只有当下垂超出阈值时，检查床的升高才被执行。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 床位 测量方法 下垂 补偿 方法 射线 ct 设备 | ||
【主权项】：
1.一种检查床位置测量方法，用于通过X射线照射和探测装置扫描安置在检查床上的受检者的X射线CT设备中，用于测量检查床在扫描平面中的位置，上述方法包括下述步骤：根据沿切线方向向检查床背侧附近外侧前进的X射线被探测的通道位置和X射线照射和探测装置的几何结构，确定检查床在扫描平面中的位置。
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