[发明专利]盘区域检测方法和设备无效
| 申请号： | 200510093584.2 | 申请日： | 2005-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN1755824A | 公开（公告）日： | 2006-04-05 |
| 发明（设计）人： | 马炳寅;金宽俊 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/18;G11B7/09;G11B7/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;金纪民 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种盘区域类型检测的方法和设备，盘区域类型检测方法包括：检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和基于检测的差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。根据所述方法和设备，盘的用户数据区域和存储介质相关的信息区域可被容易地区别，允许适当地执行锁相环(PLL)控制。 | ||
| 搜索关键词： | 区域 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种盘区域类型检测方法包括：基于从盘反射的信号检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和基于所述差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。
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