[发明专利]一种微波吸收材料反射率的测量方法

摘要

本发明公开了一种微波吸收材料反射率测量的简单方法。该方法是以可以直接或间接测量微波器件S参数的网络分析仪及与之相匹配的测试电缆和转换接头、同轴空气线与金属短路器为测量系统，对加工成端面和轴线垂直且尺寸与同轴空气线相匹配的同心环状的微波吸收材料样品进行反射率测量，本发明提供的测量方法操作简单，测量所需条件较低，不需要微波暗室等实验条件，也无需较昂贵的测试附件，测试结果与理论计算较吻合，而且在实验室条件下就可以不受外界电磁波的干扰进行吸波材料反射率的测量，无需制备大面积平板吸波材料，避免了在厚度均匀性控制上存在的较大误差，该方法能使更多的科研人员对吸波材料的反射率进行测试。

主权项

1、一种微波吸收材料反射率的测量方法，其特征是包括以下步骤：a、选取一台可以直接或间接测量微波器件S参数的网络分析仪及与之相匹配的测试电缆和转换接头、同轴空气线与金属短路器后备用；b、将微波吸收材料制作成其端面和轴线垂直且尺寸与同轴空气线相匹配的同心环状样品；c、将上述测试电缆、转换接头与网络分析仪进行装配，确定仪器测量参数并对它们三者构成的测试系统进行测量校准；d、将校准后的测试系统与同轴空气线和金属短路器装配，测量未包含样品的同轴空气线和金属短路器构成的待测组合器件的反射系数S11m(f)或反射系数S11m(f)的对数值20×1g|S11m(f)|；e、将校准后的测试系统、步骤b中制得的同心环状样品、同轴空气线和金属短路器装配，测量同心环状样品、同轴空气线和金属短路器构成的待测组合器件的反射系数S11a(f)或反射系数S11a(f)的对数值201g|S11a(f)|；f、将反射系数S11m(f)与反射系数S11a(f)代入公式：Γ(f)＝|S11a(f)|2/|S11m(f)|2计算后得到微波吸收材料反射率的线性值Γ(f)，将该线性值代入公式：ΓdB(f)＝10×1g(Γ(f))计算后得到该微波吸收材料反射率的分贝值ΓdB(f)；或者将反射系数S11m(f)的对数值20×1g|S11m(f)|与反射系数S11a(f)的对数值20×1g|S11a(f)|代入公式：ΓdB(f)＝20×1g|S11a(f)|-20×1g|S11m(f)|，计算后得到该微波吸收材料反射率的分贝值ΓdB(f)。