[发明专利]利用氧化还原反应沉积贵金属电极的方法有效

专利信息
申请号: 200510096501.5 申请日: 2005-08-22
公开(公告)号: CN1737193A 公开(公告)日: 2006-02-22
发明(设计)人: 李正贤;相崔俊 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: C23C16/00 分类号: C23C16/00;C23C16/513;C23C16/06;C23C16/40
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张平元;赵仁临
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种利用氧化还原反应沉积贵金属电极的方法。该方法包括向反应室中注入贵金属源气体、氧化气体和还原气体;及在该反应室中产生等离子体,以在底部结构上形成贵金属层或贵金属氧化物层。由此,该贵金属电极具有优异的层质量。
搜索关键词: 利用 氧化 还原 反应 沉积 贵金属 电极 方法
【主权项】:
1.一种利用氧化还原反应沉积贵金属电极的方法,包括:向反应室中注入贵金属源气体、氧化气体和还原气体;及在该反应室中产生等离子体,以在底部结构上形成贵金属层或贵金属氧化物层。
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