[发明专利]用以减低浸入式光刻系统中移动所导致的扰动的系统与方法无效

专利信息
申请号: 200510096718.6 申请日: 2005-08-26
公开(公告)号: CN1740916A 公开(公告)日: 2006-03-01
发明(设计)人: 莱夫·瑞知科夫;于利·韦拉迪米尔斯基 申请(专利权)人: ASML控股股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F7/207;G02B27/18;H01L21/027
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 荷兰费*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 在一浸入式光刻系统中,一可移动基底单元由一基底与至少一光学组件,以及位于二者间的浸入液体而形成。该浸入液体与该光学组件相对于该基底共同地移动。在曝光扫描期间,该基底单元的移动减低由扰动所产生的折射率扰动。在动态轴向补偿群组中的组件可以移动,以补偿由轴向对称的偏向所导致的像差,且该偏向是由于在该基底单元中该光学组件的移动所致。在该基底单元中由浸入液体所填入的空间可以被动态地控制,以提供适当的工作距离。假如该基底单元中的该光学组件具有屈光力,则分辨率与焦深皆可以提高。即使假如该光学组件不具屈光力,则仍可以提高焦深。
搜索关键词: 用以 减低 浸入 光刻 系统 移动 导致 扰动 方法
【主权项】:
1.一种液体浸入式光刻系统,包含:至少一个光学组件;一基底;以及位于该至少一个光学组件与该基底之间的一容积量之浸入液体,其中该至少一个光学组件、该基底以及该容积量之浸入液体被设置以在成像期间一致地移动。
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