[发明专利]用于测量样本光吸收特性的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200510097752.5 申请日: 2005-08-24
公开(公告)号: CN1740776A 公开(公告)日: 2006-03-01
发明(设计)人: 高桥浩三 申请(专利权)人: 电子系统股份有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 蒋世迅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 按照本发明用于测量样本光吸收特性的装置包括:光源;光波导和光反射面,光波导有相对的输入面和输出面,而在光反射面上设置被测的样本,光传输通过光波导,并通过全反射被反射到样本上;一个或多个光传输装置,它安排在光波导输出面与光波导输入面之间,使光再次进入光波导;和处理装置,它从光波导接收通过其输出面再次射出的光,并基于接收的光,检测样本的光吸收特性,其中传输通过光波导的光再次被引导到光波导,该光再次进入光波导,和该光再次被反射到样本上。
搜索关键词: 用于 测量 样本 光吸收 特性 方法 装置
【主权项】:
1.一种测量样本光吸收特性的方法,包括:引导来自光源的光到光波导和反射面,光波导有相对的光输入面和光输出面,而在反射面上放置被测的样本,光传输通过光波导并通过全反射被反射到样本上;传输从光波导通过其输出面射出的光到光波导的输入面,使光至少一次再进入光波导;接收从光波导再次射出的光;和基于接收的光,检测样本的光吸收特性。
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