[发明专利]用于检测电子装置的自由下落的方法和设备无效
| 申请号： | 200510098684.4 | 申请日： | 2005-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN1755373A | 公开（公告）日： | 2006-04-05 |
| 发明（设计）人： | 权雄;卢庆植;韩宇燮;沈营辅;徐相珉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01P15/00 | 分类号： | G01P15/00;G05B19/04 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;邱玲 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于检测电子装置的自由下落的方法和设备。该方法包括：使用加速度传感器来感知该电子装置的下落加速度；确定感知到的下落加速度是否小于预定阈值；当感知到的下落加速度小于预定阈值时，确定下落加速度是否是具有统计显著性的统计常数并且是否在预定的时间内被保持；和当下落加速度是统计常数并且在预定的时间内被保持时，确定该电子装置自由下落。因此，可以正确地感知电子装置的自由下落，而不管当测量该电子装置的下落加速度时由于环境条件，如温度的变化和该电子装置旋转时产生的旋转加速度所产生的重力加速度的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 电子 装置 自由 下落 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种检测电子装置的自由下落的方法，包括：(a)使用加速度传感器来感知所述电子装置的下落加速度；(b)确定所述感知到的下落加速度是否小于预定阈值；(c)当所述感知到的下落加速度小于所述预定阈值时，确定所述下落加速度是否是具有统计显著性的统计常数并且是否在预定的时间内被保持；和(d)当所述下落加速度是统计常数并且在预定的时间内被保持时，确定所述电子装置自由下落。
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