[发明专利]静电电容式的坐标检测装置有效
| 申请号： | 200510099421.5 | 申请日： | 2005-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN1758198A | 公开（公告）日： | 2006-04-12 |
| 发明（设计）人： | 佐藤忠满 | 申请（专利权）人： | 阿尔卑斯电气株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/033 | 分类号： | G06F3/033 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种即使在电极图案上形成迂回路径也能够以高精度进行坐标检测的静电电容式的坐标检测装置。公共电极(1k)与具有多个迂回路径(26)的X检测电极(2x)之间的合成电容CR较小、并且将X检测电极(1x)的平行电极(23a、23b)的长度尺寸设定得较长来增大上述公共电极(1k)与X检测电极(1x)之间的合成电容CL，由此设定为使综合的合成电容C(＝CR+CL)维持一定。因此，即使在电极图案上形成迂回路径(26)，也能够检测高精度的坐标位置。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 电容 坐标 检测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种静电电容式的坐标检测装置，在基材片上形成有：多个检测电极，向Y方向延伸并在X方向上隔开间隔配置来分别施加电压；以及多个公共电极，位于相邻的上述检测电极之间，向上述Y方向延伸；在作为导电体的接触体与上述基材片接触或接近时，检测各自的上述检测电极和与其相对置的上述公共电极之间的电容的变化，来检测上述接触体所接触或接近处的XY坐标平面上的位置；其特征在于，在将任一个上述公共电极作为基准公共电极、将上述检测电极之中与上述基准公共电极的一侧邻接的设为第1检测电极、将与另一侧邻接的设为第2检测电极时，在特定处，在上述基准公共电极和上述第1检测电极、以及上述基准公共电极和第2检测电极中的至少一方形成有与另一方接近的迂回路径。
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