[发明专利]用于检测电子装置中的泄漏点的方法及系统无效
| 申请号： | 200510102596.7 | 申请日： | 2005-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN1755417A | 公开（公告）日： | 2006-04-05 |
| 发明（设计）人： | 威廉·J·卡明斯 | 申请（专利权）人： | IDC公司 |
| 主分类号： | G02B26/00 | 分类号： | G02B26/00;G02F1/21;B81C5/00;B81B5/00;G01M3/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示用于测试电子装置以进行泄漏点检测的方法及系统，其中所述测试不会破坏所述电子装置。在一种检测一密封封装中的泄漏点的方法中，将一密封封装置于一测试气体环境中，由此使所述测试气体通过一形成于所述密封封装中的泄漏点扩散至所述密封封装的内部空间内。此后，将所述密封封装置于一基本上不含所述测试气体的环境中，并使所述测试气体扩散出所述内部空间。检测不含所述测试气体的环境中的所述测试气体的量。根据自所述检测获得的信息，判断所述密封封装中是否存在一处或多处意外泄漏点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 电子 装置 中的 泄漏 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种检测一电子装置中的一泄漏点的方法，其包括：提供一具有一内部空间的电子装置；将所述电子装置置于一包含一测试气体的测试气体环境中，其中所述电子装置基本上不含所述测试气体；将所述电子装置置于一基本上不合所述测试气体的非测试气体环境中；及在将所述电子装置置于所述非测试气体环境中的同时，检测所述测试气体。
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