[发明专利]包括混合金凸点的微电子器件芯片及其封装、应用和制造无效

专利信息
申请号: 200510103919.4 申请日: 2005-09-15
公开(公告)号: CN1750258A 公开(公告)日: 2006-03-22
发明(设计)人: 朴炯建;张宇镇;金荣浩;文泰成 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L23/482 分类号: H01L23/482;H01L21/28;H01L21/60
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 李晓舒;魏晓刚
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及包括混合金凸点的微电子器件芯片及其封装、应用和制造。本发明提供一种包括混合Au凸点的微电子器件芯片,其中在电芯片筛选(EDS)测试中在探针尖处不产生异物。该微电子器件芯片包括芯片焊盘,其连接到形成在衬底上的微电子器件,其上的微电子器件与芯片外部电接触。另外,微电子器件芯片包括形成在芯片焊盘上、由包括两层或更多层的复合层构成的凸点。
搜索关键词: 包括 混合 金凸点 微电子 器件 芯片 及其 封装 应用 制造
【主权项】:
1.一种微电子器件芯片,包括:芯片焊盘,其连接至形成在衬底上的微电子器件,从而使所述微电子器件与所述芯片的外部电接触;以及凸点,其形成在该芯片焊盘上并包括复合层,所述复合层包括两层或更多层。
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