[发明专利]利用自启动微操作系统测试内部存储器的方法无效
| 申请号： | 200510104126.4 | 申请日： | 2005-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN1936856A | 公开（公告）日： | 2007-03-28 |
| 发明（设计）人： | 丁怀亮;陈玄同;刘文涵 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F9/445;G11C29/00 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑小军;郑特强 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种利用自启动微操作系统测试内部存储器的方法，包括以下步骤：整合一内部存储器测试程序至一自启动微操作系统中，并将微操作系统与具有待测内存的计算机系统相结合；系统BIOS启动后，将系统控制权交给微操作系统接管；通过BIOS程序将存储介质的BIOS代码搬移至系统内部存储器的指定区域；通过BIOS程序查找系统中硬盘的引导扇区并进行必要的引导过程；令系统进入内部存储器测试的保护模式并进行相关段寄存器的初始化设定；以及调用内部存储器测试程序执行内存检测算法对内部存储器进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 启动 操作系统 测试 内部 存储器 方法 | ||
【主权项】：
1、一种利用自启动微操作系统测试内部存储器的方法，其使用在计算机系统的内部存储器检测过程中，该方法包括以下步骤：整合一内部存储器测试程序至一自启动微操作系统中，并将该微操作系统与具有待测内存的计算机系统相结合；所述计算机系统BIOS启动后，将系统控制权交给所述微操作系统接管；通过BIOS程序自动将存储介质的BIOS代码搬移至系统内部存储器的指定区域；通过所述BIOS程序查找系统中硬盘的引导扇区并进行必要的引导过程；令系统进入内部存储器测试的保护模式并进行相关的段寄存器的初始化设定；以及调用内部存储器测试程序，以执行内存检测算法对所述内部存储器进行测试。
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