[发明专利]具有布拉格反射器的n+/p型高抗辐照GaAs太阳电池无效
申请号: | 200510105263.X | 申请日: | 2005-09-28 |
公开(公告)号: | CN1941422A | 公开(公告)日: | 2007-04-04 |
发明(设计)人: | 白一鸣;陈诺夫;戴瑞烜;王鹏;王晓东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/052 | 分类号: | H01L31/052 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种具有布拉格反射器的n+/p型高抗辐照砷化镓太阳电池结构,包括:一衬底,该衬底用于在其上进行太阳电池各层材料外延生长;一缓冲层,该缓冲层制作在衬底上;一布拉格反射器结构,该布拉格反射器结构制作在缓冲层上;一基区,该基区制作在布拉格反射器上;一发射区,该发射区制作在基区上;一兼做窗口层和复合减反射膜的高折射率层,该高折射率层制作在发射区上;一复合减反射膜的低折射率层,该低折射率层制作在窗口层上;该高折射率层与低折射率层7构成复合减反射膜层,极大地降低了光的减反射效果;一帽子层,该帽子层制作在减反射膜层上,为高掺杂n型砷化镓材料。 | ||
搜索关键词: | 具有 布拉格 反射 sup 型高抗 辐照 gaas 太阳电池 | ||
【主权项】:
1.一种具有布拉格反射器的n+/p型高抗辐照砷化镓太阳电池结构,其特征在于,包括:一衬底,该衬底用于在其上进行太阳电池各层材料外延生长;一缓冲层,该缓冲层制作在衬底上;一布拉格反射器结构,该布拉格反射器结构制作在缓冲层上;一基区,该基区制作在布拉格反射器上;一发射区,该发射区制作在基区上;一兼做窗口层和复合减反射膜的高折射率层,该高折射率层制作在发射区上;一复合减反射膜的低折射率层,该低折射率层制作在窗口层上;该高折射率层与低折射率层7构成复合减反射膜层,极大地降低了光的减反射效果;一帽子层,该帽子层制作在减反射膜层上,为高掺杂n型砷化镓材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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