[发明专利]判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法

摘要

本发明提供一种判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法。该测试系统包括一时脉输出装置与一判断单元；所述时脉输出装置包括一正反器和一延迟模块。该测试方法利用集成电路所需延迟时间的长短来反映集成电路的处理速度。通过本发明，利用判断信号被致能的同时取得与集成电路处理速度具有正相关性的延迟时间，通过该延迟时间来反映出集成电路的处理速度，从而达到测试出集成电路处理速度的效果，并达到将具有不同处理速度的集成电路分类的效果。

主权项

1.一种判断集成电路处理速度的测试系统，其特征在于，包括：一正反器，接收一重置信号将该正反器的输出信号设定至一预设位准，并接收一时脉信号作为触发信号，且由反向输出埠产生一反向输出信号；一延迟模块，接收所述反向输出信号，并根据一第一选择信号来调整该反向输出信号的延迟时间长度，并输出具有不同延迟时间长度的输出延迟信号至所述正反器的输入埠，以使该正反器产生一输出信号；以及一判断单元，接收所述输出信号，并产生一判断信号，当所述输出信号的时脉周期长度大于所述时脉信号的时脉周期长度时，所述判断单元将该判断信号致能。