[发明专利]一种在线测量薄塑料膜厚度和双折射率的方法和系统

摘要

提供一种分析薄膜特性的系统和方法，由此通过采用非偏振光和沿着MD和CD方向的线性偏振的光来测量透射或反射光谱中的干涉条纹以确定薄膜的共面双折射率。三种光谱可同时或顺序测量。当在生产线上连续制备膜时，该共面双折射率数据可用于描述透明聚合物膜的特性，该聚合物膜主要由双轴定位聚合物构成。

主权项

1、一种分析膜的一个或多个特性的方法，该膜在纵向上运动，所述方法包括以下步骤：(a)提供产生探测光束的宽带辐射源(82，130，140)；(b)将所述探测光束沿着光束路径导引到所述膜上或穿过所述膜(88，124，150)，以使所述探测光束从所述膜(88，124，150)反射以形成第一输出光束，或者透过所述膜(88，124，150)以形成第二输出光束；(c)提供分析器(70，90，100，130)以确定所述第一输出光束或所述第二输出光束在期望的波长或波长频带处的强度；(d)在所述光束路径中放置中性密度滤光片(80C，111)、第一偏振滤光片(80A，112)、或第二偏振滤光片(80B，110)，以使所述中性密度滤光片(80C，111)、所述第一偏振滤光片(80A，112)、或所述第二偏振滤光片(80B，110)位于所述宽带辐射源(82，130，140)和所述分析器(70，90，100，130)之间；(e)使用非偏振和线性偏振光的光谱条纹的差来计算所述膜(88，124，150)的双折射率特性。