[发明专利]基于ZnO/MgB2异质结的光探测器无效
申请号: | 200510107827.3 | 申请日: | 2005-09-30 |
公开(公告)号: | CN1941425A | 公开(公告)日: | 2007-04-04 |
发明(设计)人: | 赵嵩卿;周岳亮;赵昆;刘震;王淑芳;韩鹏;相文峰;陈正豪;吕惠宾;程波林;何萌;杨国桢 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于ZnO/MgB2异质结材料制作的探测器,包括:一基底,在基底上生长一层MgB2膜,其特征在于,还包括一ZnO层,该ZnO层生长在MgB2膜上;其中MgB2膜厚度在10纳米~10微米;ZnO膜厚度在10纳米~10微米;第一电极设置在MgB2膜上,第二电极设置在ZnO膜上,第一电极引线和第二电极引线连接在电极上,并且在两个电极引线之间串联一电阻,两个电极引线的末端连接电压测试设备。该探测器在波长48nm-100μm光照射下可以获得6-25毫伏以上的直接光生伏特信号。 | ||
搜索关键词: | 基于 zno mgb sub 异质结 探测器 | ||
【主权项】:
1.一种基于ZnO/MgB2异质结材料制作的探测器,包括:一基底,在基底上生长一层MgB2膜,其特征在于,还包括一ZnO层,该ZnO层生长在MgB2膜上;其中MgB2膜厚度在10纳米~10微米;ZnO膜厚度在10纳米~10微米;第一电极设置在MgB2膜上,第二电极设置在ZnO膜上,第一电极引线和第二电极引线连接在电极上,并且在两个电极引线之间串联一电阻,两个电极输出端连接放大电路。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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