[发明专利]薄膜晶体管的制造方法有效

专利信息
申请号: 200510108108.3 申请日: 2005-09-29
公开(公告)号: CN1941298A 公开(公告)日: 2007-04-04
发明(设计)人: 吴耀铨;侯智元;胡国仁;刘博智 申请(专利权)人: 中华映管股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人: 薛平
地址: 台湾省台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种薄膜晶体管的制造方法,其先提供第一基板,且第一基板的正面已形成有多个凹陷图案。接着,提供第二基板。然后,在第二基板上形成非晶硅薄膜。继之,使第二基板上的非晶硅薄膜与第一基板的正面接触。接着,进行退火工艺,使非晶硅薄膜转变成多晶硅薄膜。之后,将第一基板以及第二基板分离。继之,图案化第二基板上的多晶硅薄膜以形成多晶硅岛状物。再来,形成栅绝缘层以覆盖多晶硅岛状物。继之,在栅绝缘层上形成栅极。之后,于栅极两侧的多晶硅岛状物中形成源极/漏极,而源极/漏极之间即是通道区。此薄膜晶体管的制造方法可减少其制造步骤以及工艺时间。
搜索关键词: 薄膜晶体管 制造 方法
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征是包括:提供第一基板,该第一基板的正面上已形成有多个凹陷图案;提供第二基板,并且于该第二基板上形成非晶硅薄膜;使该第二基板上的该非晶硅薄膜与该第一基板的该正面接触;进行退火工艺,使该非晶硅薄膜转变成多晶硅薄膜;将该第一基板自该第二基板上分离;图案化该第二基板上的该多晶硅薄膜以形成多晶硅岛状物;形成栅绝缘层以覆盖该多晶硅岛状物;在该栅绝缘层上形成栅极;以及于该栅极两侧的该多晶硅岛状物中形成源极/漏极,而该源极/漏极之间即是通道区。
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