[发明专利]用于探测测试接入点结构的扭曲固定探针的方法和装置无效
| 申请号： | 200510109585.1 | 申请日： | 2005-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN1766651A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 肖善强 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于在在线测试期间清除焊料珠状探测点表面上的氧化物、残留物或其他污染物，并探测印刷电路板上的焊料珠状探测点的扭曲固定探针。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 测试 接入 结构 扭曲 固定 探针 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于实现扭曲固定探针的方法，所述方法包括：将基本扁平的尖端附着到旋转构件；将所述旋转构件以操作接触的方式附着旋转机构；以及将所述旋转构件以操作接触的方式附着压力。
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