[发明专利]样品加工装置和样品分析装置有效
| 申请号： | 200510109760.7 | 申请日： | 2005-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN1758047A | 公开（公告）日： | 2006-04-12 |
| 发明（设计）人： | 莫尼卡·特拉普 | 申请（专利权）人： | 普法夫AQS有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/06;G01N21/64;G01N23/223;G01N25/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 侯宇;陶凤波 |
| 地址： | 德国伍*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种样品加工装置，尤其用于制备样品以便进行光发射光谱分析和/或X射线荧光光谱分析和/或燃烧分析，它具有至少一个样品架，为了有利于使用，本发明建议：所述样品加工装置具有一个圆盘铣刀，其中，该圆盘铣刀和样品架这样相对运动，使得借助该圆盘铣刀可切割一个夹持在该样品架上的样品，以形成一个自由的部段和一个继续被夹持在该样品架中的样品残余段，此外，所述样品加工装置还具有至少一个辅助工具，尤其是一个钻孔工具或另一单独的铣削工具，以便形成所述样品残余段的碎屑。本发明另外还公开一种样品分析装置，其中，设有至少一个如上所述的样品加工装置以及用于进行光发射光谱分析和/或X射线荧光光谱分析和/或燃烧分析的分析仪器。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 加工 装置 分析 | ||
【主权项】：
1.一种样品加工装置，尤其用于制备样品以便进行光发射光谱分析和/或X射线荧光光谱分析和/或燃烧分析，它具有至少一个样品架，其特征在于，所述样品加工装置具有一个圆盘铣刀，其中，该圆盘铣刀和样品架这样相对运动，使得借助该圆盘铣刀可切割一个夹持在该样品架上的样品，以形成一自由的割下部段和一个继续被夹持在该样品架中的样品残余段，此外，所述样品加工装置还具有至少一个辅助工具，尤其是一个钻孔工具或另一单独的铣削工具，以便形成所述样品残余段的碎屑。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普法夫AQS有限责任公司，未经普法夫AQS有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200510109760.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
