[发明专利]利用数字测试仪测量模拟信号的方法无效
| 申请号： | 200510111041.9 | 申请日： | 2005-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN1979199A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 王逸峰 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用数字测试仪测试模拟量的方法。先通过测试仪内部自带数字化仪器将被测模拟信号转换为数字信号，存入存储器中，此时存储器里的数据实际上是对信号的如实反映。所以，要求得被测模拟信号的具体参数值时，只需将存储器里的数据进行处理就可以了。本发明操作简单，可获得比较理想的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 数字 测试仪 测量 模拟 信号 方法 | ||
【主权项】：
1、一种利用数字测试仪测量模拟信号的方法，其特征在于：首先，采用数字化仪器通过测试仪将被测量的模拟信号转换成数字信号，并将转换后的数字信号存储于数字化仪器的数据存储器中，然后，测试仪将已采集的信号数据从数据存储器中调出并对信号进行还原，最后，对信号数据进行分析处理，得出测试结果。
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