[发明专利]一种表征金属有机双层薄膜传质动力学过程的方法无效
申请号: | 200510111067.3 | 申请日: | 2005-12-01 |
公开(公告)号: | CN1793847A | 公开(公告)日: | 2006-06-28 |
发明(设计)人: | 蒋益明;钟澄;罗宇峰;谢亨博;李劲 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/59 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于薄膜传质表征技术领域,具体涉及一种表征金属有机双层薄膜传质动力学过程的方法。本发明引入透射光谱法以建立适合纳米尺度膜传质动力学过程的表征方法,表征尺度在5-20nm及以上范围。该发明对于给出金属有机纳米膜体系的扩散参量,揭示纳米尺度异常传质现象,具有重要的科学和应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 表征 金属 有机 双层 薄膜 传质 动力学 过程 方法 | ||
【主权项】:
1、一种表征金属有机双层薄膜传质动力学过程的方法,其特征在于引入透射光谱以反映传质过程及传质时间,具体步骤如下:(1)确定体系标准透射光谱制备不同厚度金属有机双层膜,置于一定条件下使其充分传质,测量传质过程完成后的透射光谱曲线,得到标准透射光谱,作为对比曲线;(2)确定某一厚度样品传质完成时间将制备的金属有机双层膜样品每隔1-5分钟测量其透射光谱曲线,并不断将光谱与步骤(1)所得的标准透射光谱比较,当透射光谱不再变化时,即将该时间作为传质过程完成的时间;(3)获取传质动力学曲线制备一系列不同厚度的金属有机双层薄膜样品,测量其传质完成的时间,最终得到薄膜厚度与传质完成时间的关系,即传质动力学规律。
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