[发明专利]一种利用NMOS的防静电保护结构有效
申请号: | 200510111180.1 | 申请日: | 2005-12-06 |
公开(公告)号: | CN1979846A | 公开(公告)日: | 2007-06-13 |
发明(设计)人: | 苏庆;金锋;徐向明 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60;H02H9/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201206上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用NMOS的防静电保护结构,使用栅极接地的NMOS作为构成静电保护电路的基本器件,其中NMOS为偶数个且至少为四个,并利用漏区的N阱在漏区注入NWELL增强低压触发NMOS;该静电保护电路中央各设置一个NMOS,其栅极并联,漏极也并联;除静电保护电路中央设置的NMOS外,其余两侧NMOS漏极并联,源极、栅极并联;该静电保护电路中央设置的NMOS源极与其余两侧并联的NMOS的寄生NPN的基极相连,当静电保护电路中央设置的NMOS寄生NPN导通泻流时,其电流也会分流到其余两侧且并联的NMOS的寄生NPN的基极,使其余两侧并联的NMOS的寄生NPN的基极与发射极正向导通。本发明可解决GGNMOS结构作为ESD保护时,保护管不能均匀导通泻流造成ESD保护能力不高的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 nmos 静电 保护 结构 | ||
【主权项】:
1、一种利用NMOS的防静电保护结构,使用栅极接地的NMOS作为构成静电保护电路的基本器件,其特征在于,所述NMOS为偶数个且至少为四个,并利用漏区的N阱,在漏区注入NWELL以增强低压触发NMOS;该静电保护电路中央各设置一个NMOS,其栅极并联,漏极也并联;除静电保护电路中央设置的NMOS外,其余两侧NMOS漏极并联,源极、栅极并联;所述静电保护电路中央设置的NMOS源极与其余两侧并联的NMOS的寄生NPN的基极相连,当静电保护电路中央设置的NMOS寄生NPN导通泻流时,其电流也会分流到其余两侧且并联的NMOS的寄生NPN的基极,使其余两侧并联的NMOS的寄生NPN的基极与发射极正向导通。
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