[发明专利]异步通讯芯片时间参数的测试方法无效
| 申请号： | 200510111293.1 | 申请日： | 2005-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1980101A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 武建宏;谢晋春 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种异步通讯芯片时间参数的测试方法，首先，通过对被测芯片进行多次测试响应时间统计，计算出平均值；再统计一个等待时间后动作响应合格的概率；根据这个概率计算出概率为50％的中心点，与前面计算出的平均值相减测出等待时间。本发明可以提高测试时间参数的能力，用较低级的测试仪就可以测试高精度的时间信号，最大限度降低了新产品开发测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 异步 通讯 芯片 时间 参数 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种异步通讯芯片时间参数的测试方法，其特征在于：首先，通过对被测芯片进行多次测试响应时间统计，计算出平均值；再统计一个等待时间后动作响应合格的概率；根据这个概率计算出概率为50％的中心点，与前面计算出的平均值相减测出等待时间。
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