[发明专利]TFT阵列基板D断线的判断方法无效
| 申请号： | 200510112253.9 | 申请日： | 2005-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN1996440A | 公开（公告）日： | 2007-07-11 |
| 发明（设计）人： | 张俊峰 | 申请（专利权）人： | 上海广电NEC液晶显示器有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R31/00;G02F1/13;G01M11/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 薛琦 |
| 地址： | 201108上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高TFT阵列基板生产过程中，提高漏线(D线)断线检查准确率和抓取率的方法，在现有VCS分类中，将其中的d_open断线类型，根据新的标准，再细分为d_lack、d_open1、d_open2、d_open3、d_open4五种特殊类型。由于给出了这五种具有不同特征的D断与其他非D断类型之间的差异，减少了不同特征的d_open与其他非d_open的缺陷类型由于特征上相似而导致的误判，可以方便的改善现有的对应处理方法，提高了d_open检出的准确率和抓取率。 | ||
| 搜索关键词： | tft 阵列 断线 判断 方法 | ||
【主权项】：
1、一种判断TFT阵列基板D断线的方法，其特征在于，将d_open断线类型分为五个子类。
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